Xrf 分析。 RoHS特集「3分でわかるRoHS対応分析のお話」(2020年更新)

蛍光X線分析 (XRF) とは?

。 使用する装置・分析対象元素に合わせ選択する。 前者は検出器自体がX線のエネルギー分析機能を持つ半導体検出器を用いており、後者はブラッグの法則を利用した結晶分光器を用いてエネルギー分析を行う。 お客様の目的に合わせた最適な結果をご報告致します。 使用上の注意点は、フィルター中の不純物元素の種類と濃度である。

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蛍光X線分析法(XRF)の原理・特徴

XRF分析 は、広く使用されていて非破壊的で高速な技法で、材料の元素組成を判断でき、最小のサンプル調製しか必要としません。 XRDとXRF - どちらが適しているか XRDとXRFは、X線源とX線検出器を使用するため、補完的な技法で類似点がありますが、この2つの技法によって提供される情報は非常に異なります。 半導体検出器が開発された当時は液化窒素を切らすと常温に戻った時に検出器に高圧が加えられ破損することが報告された。 数値はネット強度。 1 mg単位で行い、標準試料、未知試料ともに一定の試料:融剤比(希釈率)となるように作製する。

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X線分析

蛍光X 線分析法の場合、金属試料を研磨紙などで研磨した後、そのまま測定することができます。 図1 波長分散型XRFによるモデルサンプルのXRFスペクトル 表2 波長分散型XRFによるモデルサンプルの元素分析結果 検出元素より、Ba-Zn系、Sn系、Pb系の安定剤が配合されていると推定されます。 ほとんど使われない。 Malvern PanalyticalのX線分析ソリューション Malvern Panalyticalは、X線分析装置の世界有数のプロバイダーであり、数十年の経験があります。 このデータシートでは、Axios mAXによる自動車触媒に含まれる貴金属の分析例を紹介します。 WDXは、試料から発生した蛍光X線を分光結晶で分光し、検出器で測定します。

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蛍光X線分析法(XRF) 波長分散型とエネルギー分散型の違い

トータルクロムで1000ppm以下であれば、六価クロムは1000ppm以下と言えますが、トータルクロム1000ppmを超えるとき、六価クロムとして1000ppm以下かそれ以上かは分かりません。 汚染や混染(コンタミネーション)を避ける 図3. ・例2;粉末試料を赤外分光用錠剤成形器で油圧プレスし測定する。 試料の表面粗さと粒度による影響 各種有害物質規制とその規制値 環境問題として有害性化学物質対策に注目が集まっています。 業界:環境• 分解能 およそ10eV程度のエネルギー分解能を持つ。 繰返し測定すると、その平均値を中心にばらつき(偏差)が発生する。

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蛍光X線分析法(XRF)の原理・特徴

なかでも硝酸リチウムは、分析元素の妨害とならないためによく使われるが、Li 2Oとしてガラスビード中に残留するため、加える場合は一定量とする必要がある。 RoHS指令では、具体的な検査方法は示されていないため、国際電気標準化会議(IEC)において試験法が検討され、測定法に関する指針として国際規格IEC 62321が発効された。 厚みの影響を受けずに分析できる試料厚みの目安としては、装置や測定条件によっても多少異なるため値の3-4倍とするとよい。 株式会社日立ハイテクサイエンス RoHS対応など環境規制物質測定に適した低価格蛍光X線分析装置 蛍光X線分析装置「EA1000AIII」は、精度管理型ソフトウェアをより進化させ標準装備しながら、低価格に抑えました。 フタル酸ブチルベンジル(BBP)• 軽元素ほど試料表面の影響を受けやすい理由である。

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蛍光X線分析装置(XRF)|表面分析装置|分析サービス

また、融剤はロットによって吸着している水分量や不純物量が異なることがあるため、標準試料と未知試料は、同一ロットの融剤で作製するのが望ましい。 このデータシートでは、XRF技術を使ったバルク分析と微小領域分析による品質管理、元素分布マッピングの事例を示します。 また、四ホウ酸リチウム、メタホウ酸リチウムは、酸化物中の元素と酸素の比の違いに対して反応性が異なるとされており、四ホウ酸リチウムは塩基性酸化物、メタホウ酸リチウムは酸性酸化物のガラスビード作製に適している。 時間があれば手に入れて是非とも読んで欲しい。 1つは 波長分散型蛍光X線分析装置(WDX)で、蛍光X線をソーラースリットで整え(ほぼ平行な成分を抽出)、分光結晶を用いて分光し計測するタイプです。

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